土壤中重金属的X荧光分析研究 -

土壤中重金属的X荧光分析研究

土壤中重金属的X荧光分析

本网编辑 0 2020-05-27

点赞 0 收藏

分享到

X荧光分析

X荧光光谱仪被越来越广泛地应用于分析土壤中有害重金属元素,为快速全面检测土壤中有害重金属污染提供了一种可能.

图1. 分析人员使用X-MET 7500仪器测试土壤中重金属的含量。

X荧光光谱仪被越来越广泛地应用于分析土壤中有害重金属元素，为快速全面检测土壤中有害重金属污染提供了一种可能。

土壤污染具有隐蔽性、潜伏性和长期性，特别是重金属污染基本上是一个不可逆过程，由于重金属污染物以可溶性与不溶性颗粒存在，因此残留率很高，如镉、铜、锌、铅等可达85%~95%，有些元素如铬甚至会被植物吸收从而在体内累积。因此如何快速,准确地检测土壤中有害重金属元素尤为迫切。

传统的电化学分析方法如AAS或ICP等，需要从现场收集样品运往，经过样品制备、标准设定、仪器分析、数据传送等过程，测试周期从几小时到几天不等，不能满足快速、全面检测土壤治理过程中的各个流程，如观测、研究、跟进、控制和整治等环节。

图2. X-MET 7500能迅速找出测试土壤中重金属“重点区域”的边界。

X荧光分析

X-MET 7500系列为牛津仪器推出的最新款手持式 X 射线荧光光谱仪,能满足现场快速测试要求，以对污染土壤进行分类，这意味着可大量节约垃圾掩埋费用和分析费用。仪器可快速定位和识别污染元素，并找出“重点区域”的边界（见图2）；可现场分析EPA 6200定义的所有元素，针对土壤中有害重金属污染元素进行高精度、高可靠性的定性定量检测，并且提供更低的元素检测下限，简单快捷的传输数据使决策者快速做决断。

　　
由于土壤中有害重金属污染具有明显的区域特性，故每个地区对土壤中有害重金属种类规范也不尽相同。表1列出了牛津仪器X-MET 7500对土壤中部分有害重金属的分析下限（SiO2基体），表2为中国(土壤一级标准)和其它国家规定的土壤环境质量标准对比。