半导体材料表征专题公开课
文章来源：实验与分析
发布时间：2020-12-16
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在半导体材料的电化学性能表征中，平带电位是非常重要的指标，而测量平带电位的常用方法之一就是Mott-Schottcky曲线(简称MS曲线)。我们在实际的MS曲线测量中往往会有参数选择、模型选择不清楚等问题本次公开课将围绕该测量技术进行详细的介绍：
1. MS曲线的基本原理与应用概况
2. MS曲线测量的实际操作
3. MS曲线的数据处理
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010-63326090转375 -
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