很有用!半导体材料参数介绍
					
					
					
					
						
							
								半导体材料
								参数
						
					
					
					
						
							半导体检测过程中半导体参数非常重要,可以让我们明白当前各种半导体材料的优势与劣势的原因,今天小析姐就和大家聊一聊半导体材料参数的定义及作用。
						
					
					
						 
 
 不仅如此,还可以让我们明白一些东西,特别是二极管和三极管的一些特性。 
 
 
 
 其实这些问题,如果明白了下面参数的含义,那么也就理解得差不多了。
 
 
 
 
 
 
 首先来看禁带宽度,这个参数是从 
 能带模型 
 里面来的。 
 
 
 固体中 
 电子的能量是不可以连续取值 
 的,而是一些不连续的能带,要导电就要有自由电子或者空穴存在,自由电子存在的能带称为导带(能导电)。被束缚的电子要成为自由电子,就必须获得足够能量从价带跃迁到导带,这 
 个能量的最小值就是禁带宽度。 
 
 
 
 
 硅原子最外层含有4个电子,硅原子与硅原子之前通过共享电子形成晶体,这个“共享电子”也可以叫做形成化学键。形成化学键后,电子不能自由移动,所以不能导电。 
 
 
 
 这些形成的 
 化学键的电子的能量是各不相同 
 的,但他们有个特点,都处于一个范围,这个范围就叫 
 价带 
 。 
 
 
 
 如果这些化学键的电子获得了能量,从里面跑出来了,那它就成了自由电子。电子离开的地方形成了一个空位,所以构成了空穴,这两者都是可以导电的。同样的,所有这些 
 自由电子的能量也各不相同, 
 但是它们都处于一个范围,这个范围就叫 
 导带 
 。 
 
 
 
 可以看到,这个导带和价带中间是有间隔的,这个间隔就是禁带。禁带宽度的大小实际上是 
 反映了价电子被束缚强弱程度的一个物理量。 
 
 
 
 禁带宽度越大,价电子必须获得比较高的能量,才能从化合键里面出来成为自由电子。所以禁带宽度越大,能够因为分子热运动成为自由电子的数量越少,导电性能越差。 
 
 
 
 接下来,我们看一下PN结,因为做晶体管必然少不了PN结。
 
 
 
 
 我们知道,PN结反偏是有漏电流的,这个漏电流是由少子的扩散形成的,虽然很少,但是会有。 
 
 
 也就是说,会有电子从中间的内建电场区经过。并且,电子会在这个区域被加速。 
 
 
 
 如果电压足够大,场强足够高,那么电子会被加速到较高的能量与原子相撞,原本在化学键里的电子会被撞出来成为自由电子。这个新产生的自由电子又受到电场力加速,去撞击其它的原子产生新的自由电子。 
 
 
 
 这样“一生二,二生四,子子孙孙无穷尽也”,大量的自由电子产生,电流急剧增大,这也就是 
 “雪崩击穿 
 ”。 
 
 
 
 如果说 
 禁带宽度比较大 
 ,价电子被束缚的比较紧,那么就不容易被撞出来了。 
 
 
 所以呢,禁带宽度大,能抗住的场强也就越高,耐压也就越高。同等耐压的器件,PN结就可以做得更薄,器件也能更小,又会带来寄生电容小的好处,器件也就能在更高的频率工作。 
 
 
 
 当温度上升,电子更容易获得能量。当温度上升到一定程度的时候,会有很多化学键里面的电子获得足够的能量变成自由电子,这样就破坏了半导体的特性。 
 
 
 
 试想一下,温度上升,自己产生的载流子比掺杂产生的载流子数量还多,那掺杂也就失去了意义,晶体管的功能也就失效了。 
 
 
 
 禁带宽度越大,需要升到更高的温度才能使化学键里面的电子变成自由电子,也就是说能工作在更高的温度。 
 
 
 
 硅的禁带宽度是1.12eV,而碳化硅是3.26eV。所以碳化硅器件比硅器件更耐温,可以到200℃,而硅只能到150℃,传闻金刚石可以工作在500℃。 
 
 
 
 第三代半导体的特点就是禁带宽度大, 
 所以主要应用于高温,大功率器件场合。 
 
 
 
 
 电子迁移率,指的是电子在电场力作用下运动快慢的物理量。 
 
 
 
 
 电子浓度相同的两种半导体材料,在两端施加相同的电压,那个迁移率更大的半导体材料,它里面的电子运动速度越快,单位时间通过的电子数不就越多吗?也就是说,电流越大。 
 
 
 
 这就说明了 
 电子迁移率越高的半导体材料, 
 电阻率越低,通过相同的电流, 
 损耗越小。 
 
 
 
 空穴迁移率与电子迁移率一样, 
 空穴迁移率越高,损耗越小。 
 但是一般说来,电子的迁移率是要比空穴要高,因为空穴是电子的空位,空穴的运动,本质上是电子从一个空穴移动到另外一个空穴。 
 
 
 
 从上表可以看到,硅材料的电子迁移率要比空穴迁移率高几倍,这也是为什么NMOS管比PMOS管用得多的主要原因。 
 
 
 
 NMOS管在导通时,形成的是N型导电沟道,也就是说用来导电的是电子。而PMOS管导通,形成的是P型导电沟道,用来导电的是空穴。因为电子比空穴的迁移率要高,所以,同体积大小,同掺杂的情况下,NMOS管的损耗要比PMOS管小不少。 
 
 
 
 除了功耗之外,电子/空穴迁移率还影响什么呢?器件的速度 
 
 
 这是NMOS管的截止频率(输入/输出=1时的频率) 
 
 
 
 从最终的结果可以看到,截止频率与电子迁移率成正比。也就是说,电子迁移率越高,做出的NMOS管可以工作在更高的频率。 
 
 
 
 这个推导过程挺复杂的,就不列了。那么有没有通俗的理解呢? 
 
 
 
 NMOS管的工作原理,是通过控制导电沟道,以此来控制源漏电流。在栅极加上正电压Vgs,衬底的电子会被带正电的栅极吸引,电子充斥在源端和漏端之间,形成了导电沟道,两边就可以通了。 
 
 
 
 当Vgs电压以高频率变化的时候,形成的导电沟道的厚薄也会变化。这个导电沟道的变化是通过电子的移动来形成的,电子移动速度越快(电子迁移率越高),那么导电沟道就能更快的响应Vgs的变化。所以说,电子迁移率越高,器件的工作频率越高。 
 
 
 
 同样的,PMOS管的工作速度,应该与空穴迁移率的大小正相关。 
 
 
 总的来说,电子迁移率越高,晶体管的功耗越小,速度越快。 
  
 
 
 
 从表中看出,二代半导体GaAs的电子迁移率是8500,InP的电子迁移率是4600,都是比Si的1350大很多。所以二代半导体的特点就是用在高频,大功率场合。 
 
 
 
 
 在电场比较低的时候,整体电子的漂移速度与电场大小成正比。当电场大到一定值,电子整体的漂移速度不会再增加,达到饱和,这个速度就叫 
 电子的饱和漂移速率。 
 
 
 
 
 
 
 
 
            
  
  
					 
					
				 
				
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