话题一： PerkinElmer在半导体制程中的检测方案 内容介绍： 1、PerkinElmer多重四级杆ICP-MS NexION 5000的介绍; 2、PerkinElmer的痕量元素分析解决方案。 话题二： 半导体器件可靠性、失效案例分析与检测技术进展 内容介绍： 1、半导体器件可靠性解析 2、半导体器件失效案例分析 3、半导体检测技术进展 话题三： 安捷伦元素分析解决方案助力半导体产业链发展 内容介绍： 1、我国半导体产业链信息 2、安捷伦元素分析解决方案 3、ICP-MS半导体行业元素分析应用实例​