在极短测量时间内提供出色的数据质量

SAXSpoint 5.0 采用高亮度 X 射线束，该射线束拥有高光谱纯度和无散射光束准直。配备强大的微焦斑光源或 MetalJet X 射线源和高性能光学元件，可在更短的曝光时间内提供出色的测量结果。结合更新的混合光子计数 (HPC) 探测器，可确保获得高质量的 SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXS 结果，以实现纳米结构材料分析。通过这种出色的设置，可以实现更好的分辨率，并以同类产品中较紧凑的系统尺寸（3.6 x 0.9 m）解析高达 620 nm（USAXS 为不超过微米范围）的结构。

一次性获得 SAXS 和 WAXS 数据

SAXSpoint 5.0 具有移动探测器 Slidemaster，可在非常宽的 q 范围内进行全自动 X 射线散射研究。一次性获得 SAXS 和 WAXS 数据，无需重新校准系统。只需移动探测器，即可为每次实验选择更好的 q 范围，从高 SAXS 分辨率到宽 WAXS 范围。 
SAXSpoint 5.0 为您的测量提供自动光束遮挡器选择和定位。由于集成了更新的 EIGER2 R 探测器，因此可以进行无窗口和无光束遮挡测量。

SAXS 分析有难度吗？使用 SAXSpoint 5.0 不是为了

自动完成日常测量工作，加快测量速度，而是 SAXSpoint 5.0 系统的标准性能。SAXSpoint 5.0 配备了 Stagemater，可以自动校准所有 X 射线部件和样品台，识别安装的样品台，并相应地配置系统。这为您的测量设置提供更佳的可能结果。使用 低容量液体自动进样器实现样品通量自动化，最多可容纳 192 个样品，并配有温控孔板隔室，用于在储存期间冷却和加热样品。

选择样品台：同一系统适用于所有实验条件

几乎任何的纳米结构材料都可以使用安东帕的各种样品台进行分析。使用 TrueFocus 可以轻松、快速地在不同的样品台之间切换，确保自动校准所有组件。 

• TCStage样品台装置：在 -150 °C 到 600 °C 范围内进行控温研究

• 湿度样品台：在规定的相对湿度和温度条件下进行分析

• GISAXS/GIXD 样品台：纳米结构表面和薄膜研究

• 加热/冷却多位样品台：利用温控的多位台进行自动研究 

• Tensile 样品台：在规定的机械载荷下，分析纳米结构纤维

• RheoSAXS 模块：一次性进行完整的流变和纳米结构研究 

功能强大的控制和数据分析软件

SAXS 数据分析很复杂。直观的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 软件解决方案是获得结果的最简单方法。支持自动执行常规程序步骤，如测量设置和校准，以及综合数据分析。设置连续测量，利用自动进样、温度扫描和时间相关研究，并使用可定制的模板来分析 1D 和 2D 数据集。测定回转半径 (RG)、粒径、Porod 常数、比表面积、Kratky 曲线等参数是 SAXSanalysis™ 的标准功能。