近日,英国曼彻斯特大学 R. Wang, M. Souilamas,A. K. Geim和L. Fumagalli等在Nature上发文,利用扫描介电显微镜scanning dielectric microscopy (SDM),探测了限制在原子级平坦表面之间界面水的平面内电学性质,所述原子级平坦表面之间距离低至1nm。
对于超过几个纳米的限域,界面水表现出了接近于体相水的面内介电常数,并且界面水的质子传导率显著增强,随着水厚度的减小而逐渐增加。当纳米限域水变得只有几个分子厚时,这种趋势就会突然改变。面内介电常数达到约1,000的大的类铁电值,而电导率在几个Sm-1处达到峰值,接近超离子液体的特性值。将这种增强归因于由少数层限域引起了强烈无序的氢键,这促进了分子偶极子更容易的平面内极化和更快的质子交换。
这种有助于理解纳米限域水的电学性质,对于理解发生在水界面和纳米尺度孔隙中的许多现象非常重要。
限域水的面内介电常数和电导率
图1:纳米限域水的宽带介电成像。
图2:纳米限域水的介电分散。
图3:分子尺度限域下,水的平面电学性质。
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